В Московском государственном техническом университете имени Н.Э. Баумана разработан роботизированный комплекс, предназначенный для высокоточной оценки качества оптических компонентов. Система способна выявлять дефекты, измеряемые долями нанометра. Об этом 22 декабря сообщают "Известия".

Устройство состоит из платформы, оснащенной двумя манипуляторами. Один манипулятор генерирует лазерный луч, а второй фиксирует излучение, отраженное от поверхности исследуемого объекта.

"Измерения проводятся бесконтактно. Объект подсвечивают, а по отраженному излучению считывают информацию о нем. Эти данные обрабатывают авторскими алгоритмами. Полученные сведения дают возможность судить о свойствах и профиле материала", – рассказал доцент кафедры лазерных и оптико-электронных систем Дмитрий Денисов.

Он пояснил, что комплекс адаптирован для работы с деталями размером от 30 миллиметров до 2 метров. Точность измерений, обеспечиваемая данной системой, в 2–2,5 раза превышает показатели аналогичных устройств, представленных на мировом рынке. Дополнительным преимуществом является устойчивость аппарата к сильным вибрациям, что отличает его от других приборов. Комплекс также способен переключаться между различными частотами электромагнитного излучения в видимом спектре, что способствует увеличению точности измерений.

По словам эксперта, чувствительность прибора можно сравнить с обнаружением сантиметровой волны на поверхности всего Тихого океана. Подобная точность измерений необходима, в частности, при производстве линз для космических телескопов, лазерных гироскопов и зеркальных поверхностей для орбитальных электростанций. Источник